【7885开发者手机OH 5.0 XTS】【B710】【Hats】HatsHdfInputPassthroughAdditionalTest测试模块有Fail

【严重程度】一般 【预置条件】 1、B710版本已烧录； 2、5.0 Release Hats测试套件及执行环境已预置； 【测试步骤】 1、点击run.bat运行； 2、窗口输入run -l 测试模块名 执行测试; 【预期结果】 2. 完成测试，用例全部通过； 【实际结果】 2. 测试完成，有Fail HatsHdfInputPassthroughAdditionalTest Total：80 P

【7885开发者手机OH 5.0 XTS】【B710】【Hats】HatszHdfDisplayComposerMtTest测试模块出现手机卡死

【严重程度】一般 【预置条件】 1、B710版本已烧录； 2、5.0 Release Hats测试套件及执行环境已预置； 【测试步骤】 1、点击run.bat运行； 2、窗口输入run -l 测试模块名 执行测试; 【预期结果】 2. 完成测试，用例全部通过； 【实际结果】 2. 测试中出现手机卡死 【恢复方法】无 【问题概率】必现 【关联用例】无（如是测试手工用例发现的问题，则填写用例编号。非手

【7885开发者手机OH 5.0 XTS】【B710】【Hats】HatsHdfDisplayComposerAdditionalUtTest测试模块为UN

【严重程度】一般 【预置条件】 1、B710版本已烧录； 2、5.0 Release Hats测试套件及执行环境已预置； 【测试步骤】 1、点击run.bat运行； 2、窗口输入run -l 测试模块名 执行测试; 【预期结果】 2. 完成测试，用例全部通过； 【实际结果】 2. 测试完成，为UN 【恢复方法】无 【问题概率】必现 【关联用例】无（如是测试手工用例发现的问题，则填写用例编号。非手工